基本信息 產(chǎn)地：美國 訂貨量：≥1臺 價格：請咨詢在線客服 型號：3321 品牌：TSI

 

產(chǎn)品詳情

 

3321 空氣動力學(xué)粒徑譜儀(APS?) 提供 0.5 至 20 微米粒徑范圍粒子的高分辨率、實(shí)時空氣動力學(xué)檢測。這些獨(dú)特的粒徑分析儀還檢測 0.37 至 20 微米粒徑范圍粒子的光散射強(qiáng)度。APS 粒徑譜儀通過向同一粒子提供成對數(shù)據(jù)向有興趣研究氣溶膠組成的人士開辟了令人振奮的新途徑。

APS 粒徑譜儀使用取得專利*的雙峰光學(xué)系統(tǒng)，具有無與倫比的粒徑檢測精度。它還包括新設(shè)計的噴嘴結(jié)構(gòu)和改進(jìn)的信號處理。因此，它具有更大的小粒徑檢測效率、提高的質(zhì)量分布精確度并有效消除錯誤背景計數(shù)。

 

特點(diǎn)和優(yōu)勢

 

雙峰光學(xué)系統(tǒng)產(chǎn)生高精度檢測。

測量 0.37 至 20 μm 粒子的光散射強(qiáng)度

測量 0.5 至 20 μm粒子的空氣動力學(xué)粒 徑

 

應(yīng)用范圍

 

吸入毒理學(xué)

給藥研究

大氣研究

環(huán)境空氣監(jiān)測

室內(nèi)空氣質(zhì)量監(jiān)測

濾料和空氣清潔器測試

測試氣溶膠特性

粉塵粒徑檢測

所含項

 

TSI3321_相關(guān)參數(shù)_詳情介紹.PDF